試驗結果的評估：測試結果必須依待測設備的功能喪失或劣化來分類，可參考由製造商或測試者要求訂定性能的位準，或由製造商和產品的委託製造者，建議的分類如下：

-          criteria A:在製造商和採購者所定的規格要求內性能正常。

-          criteria B:性能暫時喪失或劣化在干擾停止後也停止,而且不需要操作者處理即可自行回復正常功能。

-          criteria C:暫時的劣化或性能的喪失需要操作人員處理或系統重新設定方能回復。

-          criteria D:性能的劣化或喪失,是因硬體或軟體的損壞或是因資料的流失,以致無法回復。

製造商的規格可以訂定對待測設備可以被忽略和可接受的影響。

分類可以使用在性能判斷上作為指導。

由訂定一般產品和產品家族標準的委員會或製造商和採購者之間協調性能標準，例如沒有適合的一般、產品、產品家族存在。

5.6 測試報告必須包含下列項目並詳加紀錄

-          EUT及相關設備的識別，例如廠牌、型號、序號。

-          測試產生器的資料，例如廠牌、型號、序號、校正日期等。

-          在測試執行時任何特別的環境條件，例如：屏蔽室。

-          可執行測試的特定條件。

-          廠商所訂定的測試位準。

-          在一般性標準、產品標準或產品族標準所規定的性能要求。

-          EUT在測試時所產生的影響及結果。

-          測試結果符合或不符合標準所定之性能判定或廠商要求之性能判定。

-          能符合測試所使用的特定條件，例如電纜長度或型式、屏蔽或接地或EUT之操作條件等。

 5.7 DIP實驗場地佈置

     5.7.1  DIP試驗場地：

            －場地佈置：接地參考平面為鋁材質2.44m×寬1.44m×厚2.0mm，由端子連接至安全接地系統。

            －測試桌：由非導電性材料組合之固定式木桌長1.6m×寬0.8m×高0.8m。

            －溫/濕度計：  廠牌     ，型號     ，序號

－壓力計：     廠牌     ，型號     ，序號

－電源供應：單相115V-60Hz、單相230V-50Hz

            －DIP產生器主機：廠牌為 ，型號為 ，序號為 。

試驗電壓110V-60Hz 或230V-50Hz。

  5.9 IEC61000-4-11依照QA-3-79測試法規管制程序書內容應用正確法規.